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日本理学Ultima IV组合型多功能水平X射线衍射仪


日本理学Ultima IV组合型多功能水平X射线衍射仪:

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学独创的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。主要特点:组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料;可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。

主要的应用有:

(1)粉末样品的物相定性与定量分析;

(2)计算结晶化度、晶粒大小;

(3)确定晶系、晶粒大小与畸变;

(4)Rietveld结构分析;

(5)薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度;

(6)In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构;

(7)小角散射与纳米材料粒径分布;

(8)微区样品的分析。

检测费用:RMB 100元/件

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